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Bringing Scanning Sonde Mikroskopie auf den neuesten Stand von Calvin F. Quate (Englisch) Hard-

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Bringing Scanning Probe Microscopy up to Speed by Calvin F. Quate (English) Hard
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Zuletzt aktualisiert am 01. Apr. 2024 13:30:50 MESZAlle Änderungen ansehenAlle Änderungen ansehen

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ISBN-13
9780792384663
Book Title
Bringing Scanning Probe Microscopy up to Speed
ISBN
9780792384663
Series
Microsystems Ser.
Publication Year
1999
Type
Textbook
Format
Hardcover
Language
English
Publication Name
Bringing Scanning Probe Microscopy Up to Speed
Author
Scott R. Manalis, Calvin F. Quate, Stephen C. Minne
Item Length
9.3in
Publisher
Springer
Item Width
6.1in
Item Weight
33.2 Oz
Number of Pages
Xiii, 159 Pages

Über dieses Produkt

Product Information

Bringing Scanning Probe Microscopy Up to Speed introduces the principles of scanning probe systems with particular emphasis on techniques for increasing speed. The authors include useful information on the characteristics and limitations of current state-of-the-art machines as well as the properties of the systems that will follow in the future. The basic approach is two-fold. First, fast scanning systems for single probes are treated and, second, systems with multiple probes operating in parallel are presented. The key components of the SPM are the mechanical microcantilever with integrated tip and the systems used to measure its deflection. In essence, the entire apparatus is devoted to moving the tip over a surface with a well-controlled force. The mechanical response of the actuator that governs the force is of the utmost importance since it determines the scanning speed. The mechanical response relates directly to the size of the actuator; smaller is faster. Traditional scanning probe microscopes rely on piezoelectric tubes of centimeter size to move the probe. In future scanning probe systems, the large actuators will be replaced with cantilevers where the actuators are integrated on the beam. These will be combined in arrays of multiple cantilevers with MEMS as the key technology for the fabrication process.

Product Identifiers

Publisher
Springer
ISBN-10
0792384660
ISBN-13
9780792384663
eBay Product ID (ePID)
814725

Product Key Features

Author
Scott R. Manalis, Calvin F. Quate, Stephen C. Minne
Publication Name
Bringing Scanning Probe Microscopy Up to Speed
Format
Hardcover
Language
English
Series
Microsystems Ser.
Publication Year
1999
Type
Textbook
Number of Pages
Xiii, 159 Pages

Dimensions

Item Length
9.3in
Item Width
6.1in
Item Weight
33.2 Oz

Additional Product Features

Series Volume Number
3
Number of Volumes
1 Vol.
Lc Classification Number
Qc374-379
Reviews
'The presentation is clear and easy to follow, written by hands-on persons. There is a wealth of technical detail and useful diagrams. ...for persons who are serious fabricators of SPM...it is essential reading.' The Physicist, 37:2 (2000)
Table of Content
1 Improving Conventional ScanningProbe Microscopes.- 2 Design of Piezoresistive Cantilevers with Integrated Actuators.- 3 Increasing the Speed of Imaging.- 4 Cantilevers with Interdigital DeflectionSensors.- 5 Operation of the Interdigital Cantilever.- 6 Cantilever Arrays.- 7 Scanning Probes for Information Storage and Retrieval.- 8 Silicon Process Flow: ZnO actuatorand piezoresistive sensor.- 9 Silicon Process Flow: InterdigitalCantilever.
Copyright Date
1999
Topic
Electron Microscopes & Microscopy, Materials Science / Thin Films, Surfaces & Interfaces, Electrical, Materials Science / Electronic Materials
Lccn
99-010284
Dewey Decimal
502/.8/2
Intended Audience
Scholarly & Professional
Dewey Edition
21
Illustrated
Yes
Genre
Technology & Engineering, Science

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Rechtliche Informationen des Verkäufers

Premier Books LLC
David Taylor
26C Trolley Sq
19806-3356 Wilmington, DE
United States
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