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Defect and Microstructure Analysis by Diffraction by Jaroslav Fiala (English) Ha
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Artikelmerkmale
- Artikelzustand
- ISBN-13
- 9780198501893
- Book Title
- Defect and Microstructure Analysis by Diffraction
- ISBN
- 9780198501893
- Publication Year
- 2000
- Type
- Textbook
- Format
- Hardcover
- Language
- English
- Publication Name
- Defect and Microstructure Analysis by Diffraction
- Item Height
- 241mm
- Publisher
- Oxford University Press
- Item Width
- 162mm
- Subject
- Science
- Item Weight
- 1486g
- Number of Pages
- 808 Pages
Über dieses Produkt
Product Information
'This book reviews the state of the art for determining the 'real' structure of matter' Zeitschrift Fur kristallographieThis book reviews the state of the art for determining the 'real' structure of matter. Nature does not stack atoms up in crystals in a perfect manner. Various types of 'mistakes' find their way into the arrangements of atoms in real crystals. These mistakes or defects determine the physical properties of a material and understanding them is critical to predicting a new materials properties. This book reviews the principal characterisation technique permitting us to measure the defect solid state: X-ray diffraction.
Product Identifiers
Publisher
Oxford University Press
ISBN-13
9780198501893
eBay Product ID (ePID)
95270158
Product Key Features
Publication Name
Defect and Microstructure Analysis by Diffraction
Format
Hardcover
Language
English
Subject
Science
Publication Year
2000
Type
Textbook
Number of Pages
808 Pages
Dimensions
Item Height
241mm
Item Width
162mm
Volume
10
Item Weight
1486g
Additional Product Features
Series Title
International Union of Crystallography Monographs ON Crystallography
Editor
Jaroslav Fiala, Hans J Bunge, Robert Snyder
Country/Region of Manufacture
United Kingdom
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Rechtliche Informationen des Verkäufers
USt-IdNr.:
- AU 82107909133
- GB 293967539
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